IEC 60068-2-31是由國(guó)際電子技術(shù)委員會(huì)(IEC)定義的標(biāo)準(zhǔn),該標(biāo)準(zhǔn)指定了一種測(cè)試設(shè)備自由落體影響的阻力的方法。此過(guò)程有助于確定設(shè)備在運(yùn)輸和處理過(guò)程中承受沖擊的能力。
它如何工作?
IEC 60068-2-31自由落體程序涉及對(duì)測(cè)試樣品進(jìn)行測(cè)試樣本從特定高度上的受控滴到不同的表面。目的是復(fù)制事故或不當(dāng)行為期間可能發(fā)生的影響力。這些下降是與其他環(huán)境測(cè)試一起進(jìn)行的,以評(píng)估產(chǎn)品的整體耐用性和可靠性。
測(cè)試參數(shù)和需求
進(jìn)行IEC 60068-2-31自由落測(cè)試時(shí),幾個(gè)參數(shù)需要考慮:
下降高度:測(cè)試需要根據(jù)設(shè)備的特性及其預(yù)期使用來(lái)選擇適當(dāng)?shù)牡涓叨取@?,手持電子設(shè)備可能會(huì)從較低的高度處掉落,而較大的設(shè)備可能會(huì)受到較高的滴度。
滴面表面:可以選擇不同的表面,例如硬木,混凝土或地毯,以模擬各種真實(shí)世界的場(chǎng)景。
滴數(shù)量:標(biāo)準(zhǔn)指定不同類(lèi)型的產(chǎn)品所需的滴劑數(shù),通常從幾滴到幾滴。
解釋測(cè)試結(jié)果
根據(jù)IEC 60068-2-31完成自由落測(cè)試后,仔細(xì)檢查了測(cè)試樣本是否可見(jiàn)損壞或故障。評(píng)估還包括功能測(cè)試,以確保設(shè)備仍按預(yù)期運(yùn)行。根據(jù)結(jié)果,制造商可以識(shí)別弱點(diǎn)并進(jìn)行設(shè)計(jì)改進(jìn)以提高產(chǎn)品的耐用性。
IEC 60068-2-31自由落體程序提供了一種評(píng)估產(chǎn)品對(duì)影響的彈性的標(biāo)準(zhǔn)化方法。通過(guò)進(jìn)行這些測(cè)試,制造商可以符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)并提供可靠的設(shè)備,以承受現(xiàn)實(shí)的處理和運(yùn)輸條件。
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